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  • 華測(cè)半導(dǎo)體封裝材料高低溫真空探針臺(tái)
    華測(cè)半導(dǎo)體封裝材料高低溫真空探針臺(tái)

    更新時(shí)間：2024-10-29

    型號(hào)：

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    華測(cè)半導(dǎo)體封裝材料高低溫真空探針臺(tái)，溫度范圍77K-675K(液氮)；可應(yīng)用于真空及常規(guī)環(huán)境；超高溫度分辨率；特殊客制低溫系統(tǒng)；具有較好穩(wěn)定性
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  • Huace-6S半導(dǎo)體封裝材料高低溫探針臺(tái)
    Huace-6S半導(dǎo)體封裝材料高低溫探針臺(tái)

    更新時(shí)間：2024-10-29

    型號(hào)：Huace-6S

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    半導(dǎo)體封裝材料高低溫探針臺(tái)，可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試，采用密閉腔結(jié)構(gòu)，屏蔽外部電信干擾同時(shí)保持氮?dú)庹龎涵h(huán)境下樣品在低溫時(shí)無結(jié)霜。
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  • Huace-8 綜合性分析探針臺(tái)
    Huace-8 綜合性分析探針臺(tái)

    更新時(shí)間：2024-10-29

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    Huace-8 綜合性分析探針臺(tái)zd可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試； 操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn)； 可滿足晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等
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  • Huace-8D 雙面探針臺(tái)
    Huace-8D 雙面探針臺(tái)

    更新時(shí)間：2024-10-29

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    Huace-8D 雙面探針臺(tái)可用于晶圓和PCB板測(cè)試，用于需要正面和背面同時(shí)扎針，以實(shí)現(xiàn)各種光/電性能測(cè)試需求的測(cè)試設(shè)備。
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