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改性塑料試驗(yàn)設(shè)備

電壓擊穿試驗(yàn)儀耐電弧測(cè)試儀絕緣電阻試驗(yàn)儀電弱點(diǎn)試驗(yàn)儀電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng) 高壓、低壓漏電起痕試驗(yàn)儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀

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低壓漏電起痕/絕緣材料測(cè)試儀

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低壓漏電起痕/絕緣材料測(cè)試儀是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（2mm×5mm）的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí)（30S）定高度（35mm）滴下規(guī)定液滴體積的污染液體（0.1%NH4CL），用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力，測(cè)定其相比電痕化指數(shù)（CT1）和耐電痕化指數(shù)（PT1）。
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HCLD-III*電子電工漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2024-06-05

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HCLD-III產(chǎn)品*漏電起痕測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2024-06-05

型號(hào)：HCLD-III

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HCLD-III產(chǎn)品*電氣絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)機(jī)

更新時(shí)間：2024-06-05

型號(hào)：HCLD-III

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HCLD-III產(chǎn)品*操作簡(jiǎn)單漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2023-08-29

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HCLD-III漏電起痕試驗(yàn)儀供應(yīng)測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2024-06-05

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HCLD-III漏電起痕試驗(yàn)儀華測(cè)儀器

更新時(shí)間：2024-06-05

型號(hào)：HCLD-III

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