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從微觀角度分析絕緣材料老化和擊穿原因--空間電荷測(cè)量裝置發(fā)布時(shí)間：2024-10-25

從微觀角度分析絕緣材料老化和擊穿原因--空間電荷測(cè)量裝置使用聲學(xué)技術(shù)的空間電荷測(cè)量已成為研究固體材料介電性能的常用方法。脈沖電聲（PEA）方法已用于各種工業(yè)應(yīng)用。例如用于離子導(dǎo)電材料的，高壓絕緣材料，材料的內(nèi)部電荷、電場(chǎng)和電勢(shì)分布的研究和分析，可以實(shí)時(shí)檢測(cè)電荷分布并將其轉(zhuǎn)換為空間...

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2024
8-26

鎖相放大器在低介電常數(shù)材料測(cè)量中的應(yīng)用
隨著集成電路和通信技術(shù)的高速發(fā)展，低介常數(shù)材料（Low-K）被廣泛的應(yīng)用，一般我們將K值＜3的材料稱為低介電常數(shù)材料，但在新一代集成電路中，很多器件要求材料的K值＜2.5，國際器件與系統(tǒng)藍(lán)圖（IRDS）還建議在2028年前，開發(fā)出K值＜2的...
2024
8-22

簡(jiǎn)單了解下可一機(jī)多用，具有強(qiáng)大的擴(kuò)展能力的絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)！
簡(jiǎn)單了解下可一機(jī)多用，具有強(qiáng)大的擴(kuò)展能力的絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)！絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)運(yùn)用平行板法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合《GB/T10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開發(fā)，并參考美國ASTM標(biāo)準(zhǔn)。利用新穎的...
2024
8-21

半導(dǎo)體封裝材料高溫絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)的產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)？
半導(dǎo)體封裝材料高溫絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)半導(dǎo)體封裝材料高溫絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品介紹：絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。利用新穎的電阻測(cè)試系統(tǒng)，重復(fù)性與穩(wěn)定性好，提升了夾具的抗干擾能力，同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)...
2024
8-20

Huace鐵電分析儀可以根據(jù)不同用戶需求進(jìn)行靈活配置，又可實(shí)現(xiàn)哪些功能？
Huace鐵電分析儀可以根據(jù)不同用戶需求進(jìn)行靈活配置，擴(kuò)展后又可實(shí)現(xiàn)哪些功能呢？HuaceFE-3000鐵電分析儀有著寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍，該系統(tǒng)可廣泛地應(yīng)用于如各類鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)...
2024
8-19

什么是半導(dǎo)體封裝材料TSDC測(cè)試系統(tǒng)？
什么是半導(dǎo)體封裝材料TSDC測(cè)試系統(tǒng)？熱刺激理論是在介質(zhì)物理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的，研究這一理論的方法即熱刺激法比較簡(jiǎn)單實(shí)用而且又能較準(zhǔn)確地測(cè)量出某些物質(zhì)（如電介質(zhì)、絕緣材料、半導(dǎo)體、駐極體等）的微觀參數(shù)，熱刺激法是一面對(duì)材料升溫一面進(jìn)行測(cè)量，...
2024
8-17

如何優(yōu)化壓電系數(shù)測(cè)試儀的測(cè)試過程
壓電系數(shù)測(cè)試儀是測(cè)量材料壓電性能的關(guān)鍵工具，廣泛應(yīng)用于電子、材料科學(xué)、傳感器技術(shù)等領(lǐng)域。優(yōu)化測(cè)試過程不僅能夠提高測(cè)試效率，還能提升數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性。本文將探討優(yōu)化壓電系數(shù)測(cè)試儀測(cè)試過程的策略，包括設(shè)備校準(zhǔn)、測(cè)試環(huán)境控制、數(shù)據(jù)處理與分析、...

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