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  • TF Analyzer 2000E國產(chǎn)鐵電壓電分析儀/測試儀器
    TF Analyzer 2000E國產(chǎn)鐵電壓電分析儀/測試儀器

    更新時間:2024-06-13

    型號:TF Analyzer 2000E

    瀏覽量:4320

    TF ANALYZER 2000E鐵電壓電分析儀/測試儀器是一款擴展性高的速型模塊化鐵電壓電分析儀,可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。國產(chǎn)鐵電壓電分析儀/測試儀器
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  • TF Analyzer 1000鐵電壓電分析儀
    TF Analyzer 1000鐵電壓電分析儀

    更新時間:2024-06-04

    型號:TF Analyzer 1000

    瀏覽量:1951

    TF ANALYZER 1000是一款緊湊型鐵電壓電分析儀,具備鐵電、壓電材料所有基本特性測試功能,可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用,適用于薄膜、厚膜和塊狀陶瓷及鐵電器件等分析測試。
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  • 高溫退火爐測試儀器
    高溫退火爐測試儀器

    更新時間:2023-08-11

    型號:

    瀏覽量:3044

    高溫退火爐測試儀器加熱大都為管式爐或馬弗爐,原理為加熱絲或硅碳棒對爐體加熱,加熱與降溫速度慢,效率低下,也無法實現(xiàn)溫度的測量,加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)象,華測儀器通過多年研究開發(fā)了一種可實現(xiàn),高反射率的拋物面與高質(zhì)量的加熱源相配置,在高速加熱高速冷卻時,具有良好的溫度分布。
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  • 華測MLCC高溫/低溫介電溫譜頻譜試驗儀
    華測MLCC高溫/低溫介電溫譜頻譜試驗儀

    更新時間:2024-10-17

    型號:

    瀏覽量:2108

    華測MLCC高溫/低溫介電溫譜頻譜試驗儀,為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測量需求而設(shè)計的。主要應(yīng)用于應(yīng)用領(lǐng)域:復(fù)合絕緣擦亮 、高分子絕緣材料 、無機絕緣材料 、有機絕緣材料 、其它絕緣材料等 。
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  • HPZT-200壓電系數(shù)測試儀器
    HPZT-200壓電系數(shù)測試儀器

    更新時間:2024-06-04

    型號:HPZT-200

    瀏覽量:2209

    壓電系數(shù)測試儀器除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性外,還具有壓電。壓電陶瓷經(jīng)過極化處理之后,就具有了各向異性,每項參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同,這就使得壓電陶瓷的參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多。壓電陶瓷的眾多的參數(shù)是它被廣泛應(yīng)用的重要基礎(chǔ)。
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  • 熱激勵去極化電流測量系統(tǒng)/測試儀器
    熱激勵去極化電流測量系統(tǒng)/測試儀器

    更新時間:2024-06-05

    型號:

    瀏覽量:1613

    熱激勵去極化電流測量系統(tǒng)/測試儀器是被廣泛應(yīng)用于電力、絕緣、生物分子等領(lǐng)域,用于研究材料的一些關(guān)鍵因素,諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等。
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  • AMR-UD導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng) 可靠性電路測試系統(tǒng)
    AMR-UD導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng) 可靠性電路測試系統(tǒng)

    更新時間:2024-07-23

    型號:AMR-UD

    瀏覽量:2407

    導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng) 可靠性電路測試系統(tǒng)在低溫、高溫的溫度循環(huán)環(huán)境下,采用4端子測試法對焊點、連接器接點等導(dǎo)體進行多通道微小電阻連續(xù)測量,以評估電子裝配與材料的正確性和可靠性。操作軟件可實時自動測量記錄數(shù)據(jù),圖表化微小電阻變化及試驗箱溫度變化,可通過LAN進行數(shù)據(jù)處理
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  • 絕緣電阻劣化離子遷移評估系統(tǒng)/PCB測試
    絕緣電阻劣化離子遷移評估系統(tǒng)/PCB測試

    更新時間:2023-08-29

    型號:

    瀏覽量:2807

    面對電子產(chǎn)品越來越小型輕量及絕緣電阻劣化離子遷移評估系統(tǒng)/PCB測試配之以高溫高濕試驗箱聯(lián)動,可連續(xù)監(jiān)測,簡便評估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問題。
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