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可測薄膜材料的高阻計具有哪些優(yōu)勢?

更新時間:2021-09-14      點擊次數(shù):785


設(shè)備優(yōu)勢:

電阻測量范圍 1×104Ω ~1×1018 Ω;

電流測量范圍 2×10-4A ~1×10-16A;

體積小、重量輕、;

*的被測電阻、和流過電阻的電流雙顯示,使操作測量方便;
穩(wěn)定、讀數(shù)方便;
既能測電阻又能測電流;
測試電壓有六種選擇DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V;

使用操作簡便,在任何電阻量程和測試電壓下均直接讀顯示數(shù)字結(jié)果,免去要乘以一個系數(shù)的麻煩,使測量超高電阻就如用萬用表測量普通電阻樣簡便。



高阻計技術(shù)參數(shù):

吉時利5位半6517B靜電計/高阻表提供的精度和靈敏度指標(biāo)高于其他同類型儀表。它還具有 完備的功能,使測量高阻和絕緣材料電阻率變得簡單。6517B具有425讀數(shù)/秒的測試速率,比同 類型的靜電計快很多,可以提供快速、簡易的弱 電流測量能力測量弱電流。


6517B 主要特點:


  • 電阻測量可達1016 Ω

  • 電流測量范圍1fA - 20mA

  • *小電流量程輸入端壓降<20μV

  • 200TΩ 輸入阻抗

  • <3fA 偏置電流

  • 測試速率高達425 rdgs/s

  • 噪聲0.75fA p-p

  • 內(nèi)置±1kV電壓源

  • 的高電阻測量電壓反接方法

  • 可選的插件式掃描卡

                                         高低溫環(huán)境下的高阻測量


表面體積電阻測試儀(高阻計).jpg


 

高阻測量

6517B型靜電計/高阻表的諸多特性和能力有助于確保高阻測量應(yīng)用的準(zhǔn)確度。例如,其內(nèi)置電壓源簡化了 絕緣器電阻率和所用電源電壓電平之間關(guān)系的確定。它還非常適合電容器泄漏和絕緣電阻測量、印刷電路板表 面絕緣電阻測試、電阻器電壓系數(shù)測試以及二極管泄漏特性分析。

應(yīng)用6517B型靜電計/高阻表非常適合物 理、光學(xué)、納米技術(shù)和材料科學(xué)等研究 領(lǐng)域的低電流和高阻抗電壓、電阻和電荷測量。其極低的電壓降非常適合太陽能電池測量,其內(nèi)置電壓源和低電流靈 敏度使之成為基于聚合物的納米線等高 阻測量的出眾解決方案。其高速和易用 性使之成為質(zhì)量控制、產(chǎn)品工程和生產(chǎn) 測試(包括漏流、擊穿和電阻測試)應(yīng) 用的jihao選擇。利用6517B型靜電計/高 阻表的電壓反轉(zhuǎn)方法,可以大幅改進對 絕緣材料的體電阻率和表面電阻率測量。 6517B型靜電計/高阻表還非常適合電化學(xué)應(yīng)用,如離子選擇性電極和pH測量、電導(dǎo)電池和電勢測定。

6517B 主要產(chǎn)品功能:

6517B靜電計/高阻表具有特殊的低 電流輸入放大器,其輸入偏置電流<3fA,噪聲僅 0.75fA p-p (峰-峰) ,輸入端壓降<20μV。對于 接近理想的電路負載,其電壓和電阻測量的輸入 阻抗是200TΩ。這些指標(biāo)確保物理、光學(xué)、納米技術(shù)和材料科學(xué)等研究領(lǐng)域低電流和高阻抗電壓、電阻和電荷測量所需的準(zhǔn)確 度和靈敏度。內(nèi)置±1kV的電壓源具有掃描能力,從而簡化漏流測試、擊穿電壓測試 和電阻測試,以及絕緣材料的體電阻率(Ω-cm) 及表面電阻率(Ω/square) 的測量。

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